技術(shù)文章TECHNICAL ARTICLES
在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展
首頁 > 技術(shù)文章
透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿,基于MEMS原位芯片技術(shù),通過更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片,在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。透射電鏡樣品桿的分類1、氣氛桿:氣氛桿能夠突破現(xiàn)有透射電鏡對于真空度要求的限制,在一個*封閉的氣體系統(tǒng)中,研究透射電鏡內(nèi)的氣相反應(yīng)過程,如高分辨下觀察催化劑與氣體的反應(yīng)情況。并結(jié)合控溫模塊,能夠在特定的壓力和溫度下動態(tài)的,實(shí)時的觀察原子級別的固氣反應(yīng)。同時,該樣品桿可以真正在透射電鏡中進(jìn)行密閉腔室的EDS元素分析。可用氣體種類:氫氣、氮?dú)狻⒀鯕狻鍤狻睔獾榷?/p> 查看更多
原位多場耦合樣品桿的使用涉及一系列精細(xì)的步驟和操作,以下是其使用的基本流程:一、準(zhǔn)備工作樣品準(zhǔn)備:根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求,選擇合適的樣品,并確保其尺寸和形狀與樣品桿兼容。設(shè)備檢查:檢查原位多場耦合樣品桿及其附件是否完好無損,確保無松動或損壞的部件。環(huán)境準(zhǔn)備:確保實(shí)驗(yàn)環(huán)境干凈、無塵,以減少對樣品的污染。二、安裝與調(diào)試安裝樣品:將準(zhǔn)備好的樣品固定在樣品桿上,確保樣品穩(wěn)定且位置準(zhǔn)確。連接設(shè)備:將樣品桿連接到電鏡或其他分析設(shè)備上,確保連接穩(wěn)固、無松動。調(diào)試與校準(zhǔn):根據(jù)設(shè)備說明書,對原位多場耦合...
了解更多隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,各類法醫(yī)和犯罪現(xiàn)場證據(jù)的微觀分析對偵破案件的重要性日益增強(qiáng)。電鏡作為一種高分辨微觀工具,在法醫(yī)和犯罪現(xiàn)場搜證方面有巨大的應(yīng)用價值。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18臺式掃描電鏡,利用其超高的圖像分辨率,可以觀察到肉眼無法識別的細(xì)微痕跡,為警方提供詳盡而關(guān)鍵的物證,科學(xué)地偵破許多看似復(fù)雜的刑事案件。例如在涉水死亡案件中,ZEM18臺式掃描電鏡可以通過人體組織內(nèi)殘留的硅藻種類、數(shù)量和狀態(tài)判斷受害者是生前落水還是死后落水。此外,ZEM18掃描電鏡可以檢測現(xiàn)場殘留物,如...
了解更多ZEM18作為澤攸科技自主研發(fā)的高分辨臺式掃描電子顯微鏡,在半導(dǎo)體領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。典型案例如下:【晶圓缺陷檢測】利用ZEM18電鏡直接成像觀察晶圓表面,可以清晰展現(xiàn)出微小劃痕、顆粒污染等各類缺陷情況。根據(jù)圖像結(jié)果判斷缺陷源頭,以優(yōu)化制程,提高生產(chǎn)良率。【光刻工藝檢測】使用ZEM18電鏡可以在微米量級直接刻畫光刻膠層的側(cè)壁形貌及斷口形態(tài)。幫助評估光刻質(zhì)量與曝光量效應(yīng),優(yōu)化曝光量設(shè)置。【金屬互連觀測】ZEM18高倍成像可以清晰展現(xiàn)芯片互連結(jié)構(gòu)中的空隙缺陷、線邊斷裂情況,有助于...
了解更多澤攸科技JS系列高精度臺階儀是一款先進(jìn)的自主研發(fā)的國產(chǎn)臺階儀,采用了先進(jìn)的掃描探針技術(shù)。通過掃描探針在樣品表面上進(jìn)行微觀測量,臺階儀能夠準(zhǔn)確獲取表面形貌信息。其工作原理基于探針與樣品表面的相互作用力,通過測量探針的微小位移,實(shí)現(xiàn)對表面高度差異的檢測。其性能特點(diǎn)包括:1.高精度:臺階儀可實(shí)現(xiàn)納米級別的測量,能夠揭示微觀結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)和特征。2.大行程超精密平面掃描:具備70mm的大行程,優(yōu)于20nm/2mm,能夠高效地獲取表面形貌數(shù)據(jù)。3.大帶寬大行程納米微動臺:擁有80um的大行...
了解更多近年來,中國科技創(chuàng)新實(shí)力逐漸嶄露頭角,而在電子顯微鏡領(lǐng)域,澤攸科技(ZEPTOOLS)的ZEM系列臺式掃描電鏡正促進(jìn)行業(yè)的新風(fēng)向。自2019年10月16日在全國電子顯微學(xué)會年會上展示了國內(nèi)自主研發(fā)的國產(chǎn)臺式掃描電鏡ZEM15以來,該系列掃描電鏡憑借其出色的性能和自主研發(fā)的技術(shù)特色,逐漸在國內(nèi)外市場上贏得了廣泛認(rèn)可和青睞。ZEM15臺式掃描電鏡展會現(xiàn)場ZEM系列臺式掃描電鏡的問世標(biāo)志著中國在電子顯微鏡領(lǐng)域邁出了重要的一步。作為全球電鏡市場上的新興科技品牌,澤攸科技不僅僅是帶來了...
了解更多二維材料轉(zhuǎn)移臺是一種重要的設(shè)備,主要用于二維材料的精確轉(zhuǎn)移和定位。準(zhǔn)備階段:確保二維材料轉(zhuǎn)移臺放置在穩(wěn)定的工作臺上,避免振動和干擾。檢查電源和連接線路,確保設(shè)備正常供電。根據(jù)需要選擇合適的二維材料和目標(biāo)基底。安裝和固定基底:使用雙面膠帶或真空泵將目標(biāo)基底固定在襯底固定臺上。確保基底固定牢固,避免在轉(zhuǎn)移過程中發(fā)生移動。對準(zhǔn)和定位:通過顯微鏡觀察,找到Si襯底上的電極圖案或已經(jīng)轉(zhuǎn)移好的二維材料。將目標(biāo)位置固定在顯微鏡視野中央,以便進(jìn)行精確轉(zhuǎn)移。二維材料的轉(zhuǎn)移:使用PDMS(聚二甲...
了解更多全自動臺階儀的測量精度和重復(fù)性是評估其性能的重要指標(biāo)。通常,測量精度要求全自動臺階儀能夠準(zhǔn)確地測量出微小的高度差,而重復(fù)性則要求其能夠保證測量結(jié)果的穩(wěn)定性。為了評估全自動臺階儀的測量精度,可以采用已知準(zhǔn)確高度的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行測試,并比較測量結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)樣品的實(shí)際高度差。此外,可以通過多次重復(fù)測量同一樣品的高度,計(jì)算測量結(jié)果的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差,以評估全自動臺階儀的重復(fù)性。在實(shí)際應(yīng)用中,全自動臺階儀的測量精度和重復(fù)性受到多種因素的影響,如儀器的設(shè)計(jì)、制造工藝、操作環(huán)境、操作人員技能等。...
了解更多半自動臺階儀可以測量材料的表面形貌,包括表面粗糙度、波紋度、臺階高度等參數(shù),用于研究材料的表面特性。可以測量薄膜的厚度,對于半導(dǎo)體、光電子、微電子等領(lǐng)域的研究和生產(chǎn)具有重要意義。可以檢測材料表面的缺陷,如裂紋、劃痕、凹槽等,用于產(chǎn)品質(zhì)量控制和失效分析。半自動臺階儀在半導(dǎo)體行業(yè)中的優(yōu)勢:1.高精度測量:半自動臺階儀采用測量技術(shù),能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的測量結(jié)果,滿足半導(dǎo)體行業(yè)對表面形貌和尺寸精度的嚴(yán)格要求。2.高效測量:半自動臺階儀采用自動化測量方式,能夠快速、準(zhǔn)確地測量半導(dǎo)體表面的臺...
了解更多關(guān)于我們
公司簡介新聞動態(tài)技術(shù)文章產(chǎn)品展示
掃描電子顯微鏡 透射電鏡樣品桿 掃描電鏡原位樣品臺 臺階儀 二維材料轉(zhuǎn)移臺 探針臺及低溫系統(tǒng) 光柵尺欄目導(dǎo)航
產(chǎn)品中心榮譽(yù)資質(zhì)成功案例聯(lián)系我們
在線留言聯(lián)系我們
版權(quán)所有©2025 安徽澤攸科技有限公司 Al Rights Reseved 備案號:皖I(lǐng)CP備17025148號-2 Sitemap.xml 管理登陸 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)