技術文章TECHNICAL ARTICLES
在發展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學的管理促進企業迅速發展
首頁 > 技術文章
透射電鏡原位加熱/電學樣品桿,基于MEMS原位芯片技術,通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片,在透射電鏡中實現對樣品加熱或加電的原位功能。透射電鏡樣品桿的分類1、氣氛桿:氣氛桿能夠突破現有透射電鏡對于真空度要求的限制,在一個*封閉的氣體系統中,研究透射電鏡內的氣相反應過程,如高分辨下觀察催化劑與氣體的反應情況。并結合控溫模塊,能夠在特定的壓力和溫度下動態的,實時的觀察原子級別的固氣反應。同時,該樣品桿可以真正在透射電鏡中進行密閉腔室的EDS元素分析。可用氣體種類:氫氣、氮氣、氧氣、氬氣、氨氣等多
查看更多在眾多工業生產與科學研究場景中,精確測量物體表面的粗糙度和輪廓是一項至關重要的任務。而臺階儀,作為專業的測量儀器,在這一領域發揮著不可替代的關鍵作用。本文將全面深入地介紹臺階儀,涵蓋其定義用途、工作原理、類型特點等方面,為您呈現關于臺階儀的詳細知識畫卷。一、臺階儀的定義與用途臺階儀,英文名為Profilometer,是專門用于測量物體表面輪廓和表面光潔度(表面粗糙度)的儀器。在微觀層面觀察,物體表面實則是由一系列高度、深度以及間距各不相同的峰谷所構成。這些看似細微的特征差異,...
了解更多掃描電子顯微鏡(SEM)是一種利用電子束掃描樣品表面,通過檢測產生的信號來獲取樣品表面形貌和成分等信息的高分辨率顯微鏡。本文將對SEM的基本原理、優勢、應用領域以及操作時的注意事項進行詳細解讀。1.SEM技術概述SEM通過電子束與樣品相互作用產生的信號,如二次電子和背散射電子,來構建樣品表面的圖像。這種顯微鏡能夠提供納米級別的高分辨率圖像,并具備較大的景深,使得樣品的三維形貌得以清晰展示。1.1工作原理SEM的工作原理類似于在暗室中使用手電筒掃描物體。電子束代替手電筒,電子探...
了解更多液體樣品分析在化學、生物、環境、食品等多個領域具有廣泛的應用。為了確保分析結果的準確性和可靠性,質量控制是分析過程中不可忽視的重要環節。一、樣品采集與儲存樣品采集:液體樣品的采集應遵循代表性、均勻性和可追溯性的原則。采樣容器應選擇適當的材質,以避免樣品在運輸和儲存過程中受到污染或發生化學變化。樣品儲存:樣品儲存過程中應嚴格控制溫度、濕度和光照等條件,防止樣品發生降解、變質或受潮。同時,應定期檢查樣品的完好性和穩定性,確保樣品在分析前保持原始狀態。二、樣品預處理樣品凈化:對于含...
了解更多為了深入理解納米材料的結構和性能,透射電子顯微鏡(TEM)作為一種強大的表征工具,被廣泛應用于納米材料的研究中。而透射電鏡樣品桿,作為連接樣品與電鏡的關鍵橋梁,其重要性不言而喻。透射電鏡樣品桿的設計和制備對于納米材料的觀察和分析至關重要。由于納米材料的尺寸小、結構敏感,對樣品桿的要求也極為嚴格。優質的樣品桿應具有高分辨率、良好的機械性能和化學穩定性,以確保在復雜環境下仍能獲取高質量的圖像和數據。在納米材料的研究中,透射電鏡樣品桿的應用主要體現在以下幾個方面:1.結構表征:納米...
了解更多在科學研究和工業生產中,液體樣品桿作為一種重要的實驗工具,廣泛應用于化學、生物、物理等領域。為了提高實驗的準確性和效率,它的設計與優化顯得尤為重要。一、設計原則密封性:首要任務是確保樣品在運輸和實驗過程中的密封性,防止液體泄漏。因此,設計時應選用優質的密封材料和合適的密封結構。精度:精度直接影響到實驗結果的準確性。在設計過程中,應充分考慮樣品的濃度、粘度等因素,選擇合適的取樣量和取樣方式,以確保測量精度。操作性:應易于操作,方便用戶快速完成樣品的取樣、加樣等操作。同時,操作過...
了解更多掃描電鏡(SEM)的對比度調整是優化圖像質量的關鍵步驟,以下是一些有效的調整技巧:調節電子束參數:改變加速電壓和聚焦電流可以顯著影響圖像對比度。較低的加速電壓通常會增加樣品表面細節的對比度,因為低能電子與樣品的相互作用更強,但可能會減少穿透深度。調整聚焦電流則可以控制電子束的精細程度,進而影響圖像的清晰度和對比度。對比度控制器調節:在SEM的操作界面中,直接調整對比度控制旋鈕或滑塊。一般建議逐漸增加對比度至圖像出現輕微噪聲,這通常是一個較好的平衡點,對比度過高會使得圖像細節模...
了解更多減少掃描電鏡(SEM)中電子束對樣品損傷的方法主要包括以下幾點:降低束流密度:通過擴大掃描區域或減小電子束的流強,可以減少單位面積上接收到的電子數量,從而減輕對樣品的損傷。使用低加速電壓:較低的加速電壓意味著電子的能量較低,它們對樣品的穿透能力減弱,減少了對樣品內部結構的損傷,更適合觀察表面敏感或軟物質樣品。優化樣品制備:確保樣品表面導電,通過鍍金或其他導電材料處理,減少表面充電效應。適當的熱處理可以減少樣品內部應力,間接降低損傷。對于生物樣品,冷凍干燥或液氮快速冷凍可以固定...
了解更多在材料力學性能的研究中,原位拉伸樣品桿與應力-應變曲線之間的關系是至關重要的。原位拉伸技術為研究者提供了一種在微觀尺度上觀察材料在受力過程中的變形行為的方法,而應力-應變曲線則是描述材料在受到外力作用時,其內部發生變形與破壞特性的宏觀表現。原位拉伸樣品桿是實現這一研究的關鍵工具。通過在掃描電子顯微鏡(SEM)或透射電子顯微鏡(TEM)等高精度成像設備中安裝拉伸裝置,研究者能夠在材料受到拉伸力的同時,實時觀察其微觀結構的變化。這種技術使得研究者能夠直觀地看到材料的形變過程,包括...
了解更多
版權所有©2025 安徽澤攸科技有限公司 Al Rights Reseved 備案號:皖ICP備17025148號-2 Sitemap.xml 管理登陸 技術支持:化工儀器網